高亮度鹵素光源系統(tǒng)是一種宏觀觀察照明系統(tǒng)，用于檢測(cè) *終精加工表面的異物、劃痕、拋光不均勻、霧度和滑移等各種缺陷，這是半導(dǎo)體晶片和液晶襯底加工過程中* 費(fèi)力的。 高輝度ハロゲン光源裝置 根據(jù)具體要求可以選擇黃光和白光兩種光源 可檢測(cè)各種缺陷 如硅片 砷化鎵 碳化硅 等半導(dǎo)體晶片及液晶基板表面的異物 劃痕 拋光不均 霧狀 劃傷等 1. 可照明様品表面範(fàn)囲於400.000Lx以上。 2. 因使用鹵素光源燈的光源，具有色溫度高、光照不均的減少及非常穏...
日本HORIBA堀場(chǎng)|橢圓偏振光譜儀的應(yīng)用 薄膜表征的有效技術(shù) 橢圓偏振光譜是一種表面敏感、非破壞性、非侵入性的光學(xué)技術(shù)，廣泛應(yīng)用于薄層和表面特征。它基于線偏振光經(jīng)過薄膜樣品反射后偏振狀態(tài)發(fā)生的改變，通過模型擬合獲得厚度以及光學(xué)常數(shù)等。根據(jù)薄膜材料的不同，可測(cè)量的厚度從幾個(gè)?到幾十微米。橢圓偏振光譜是一種很好的多層膜測(cè)量技術(shù)。 橢圓偏振光譜儀可以表征薄膜的一系列特性，如...
HORIBA堀場(chǎng) LA-960V2激光粒度分析儀秉承 HORIBA 一貫的優(yōu)異設(shè)計(jì)**行業(yè)方向。其直觀的軟件、特有的附件和優(yōu)異的性能將科學(xué)認(rèn)知推向未知世界，是LA系列儀器的突破性演變。 HORIBA 的光學(xué)設(shè)計(jì)完善了靜態(tài)光散射顆粒尺寸測(cè)量技術(shù) 先進(jìn)的檢測(cè)器設(shè)計(jì) 檢測(cè)器的數(shù)量、角度范圍和布局都會(huì)影響整體系統(tǒng)性能。 優(yōu)異的儀器關(guān)聯(lián)性 無(wú)論儀器...
流量計(jì)是指測(cè)量液體、氣體的流動(dòng)量。 即使聽說過流量計(jì)，也可能不太熟悉。但是，這個(gè)機(jī)器就像名字一樣，可以測(cè)量流動(dòng)的東西的量。一聽到“流動(dòng)”首先就會(huì)想到水等液體，如果是流動(dòng)的東西，氣體等也可以。 如果是用于清洗的液體，“每分鐘流多少升*有效？” 如果是冷卻水，“每分鐘流多少升才能冷卻到*合適的溫度？” 等，流量測(cè)量的需**所有產(chǎn)業(yè)都需要的。通過監(jiān)視和管理流量，有提高成品率、防止**品流出...
日本Accretech東京精密株式會(huì)社 1949年3月28日成立，主要從事半導(dǎo)體制造設(shè)備、精密測(cè)量設(shè)備的制造與銷售業(yè)務(wù)，半導(dǎo)體制造設(shè)備主要是探針機(jī)、切割機(jī)、精密切割刀片、拋光和研磨機(jī)、CMP設(shè)備、邊緣滑行機(jī)等，精密測(cè)量?jī)x器主要是三維坐標(biāo)測(cè)量機(jī)、表面粗糙度和輪廓測(cè)量機(jī)、圓度和圓柱形測(cè)量機(jī)、光學(xué)測(cè)量?jī)x器、機(jī)器控制儀表*和各種傳感器等 日本Accretech東京精密株式會(huì)社半...
BF-X2ME，BF-XMB， BF-X4ME BF-OHP3B，BF-X2MC BF-6MB，BF-X8MA//BF-X12MA，BF-SZAⅡ，BF-XZB，BF-X2ZB-V2，BF-X4ZB，BF-XDD，BF-X2DD-V2，BF-X4DD，BF-X6DD
Shisid Static Electricity公司已經(jīng)經(jīng)營(yíng)了80年。 我們成功地制造了日本**臺(tái)靜電消除器和測(cè)量?jī)x器。 Shishido Static Electric 成立于 1938 年，當(dāng)時(shí)名為“Shishido Shokai”，位于東京丸之內(nèi)丸之內(nèi)大廈。 從那時(shí)起，我花了這么多年的時(shí)間處理靜電造成的障礙。 為了解決與制造相關(guān)的靜電干擾問題，我們開發(fā)了日本**臺(tái)靜電消除器和靜電測(cè)量裝置。 80 年來，我們一直為生產(chǎn)基地提供支持 ...
日本SSD西西蒂|(zhì)靜電產(chǎn)品|應(yīng)用在半導(dǎo)體和電子設(shè)備行業(yè) ZAPPIII. 控制器 OZIII.-CB 本產(chǎn)品可以控制Zapp III的電源和空氣開/關(guān)。 此外，空氣噴口可以連續(xù)或間歇切換。 您可以控制ZappIII的電源和空氣供應(yīng)ON/OFF。 離子空氣吹出可以設(shè)置為間歇性（10 Hz 或 5 Hz）。 ...
日本TOFCO東富科 于1973年作為流量測(cè)量?jī)x器的專業(yè)制造商成立，并于1974年成立了株式會(huì)社東京流量計(jì)實(shí)驗(yàn)室，此后半個(gè)世紀(jì)以來，以流體控制技術(shù)為基礎(chǔ)的計(jì)測(cè)器、周邊設(shè)備，熱轉(zhuǎn)換器，環(huán)境機(jī)器等，致力于滿足客戶的各種需求。2002年開始我們積極的推進(jìn)全球化發(fā)展，并于2004年1月推出了以3大業(yè)務(wù)為支柱的「TOFCO」品牌。「TOFCO」意為「Total Flow Consultant」，代表了我們的堅(jiān)定決心，2004年9月，公司更名為...
ULVAC愛發(fā)科檢漏儀HELIOT901W1，ULVAC檢漏儀901D2，ULVAC檢漏儀904W2，ULVAC檢漏儀904D3
日本愛發(fā)科ULVAC高速光譜橢偏儀：真空泵(低?中真空) 真空泵(高真空) 真空計(jì) 氣體分析儀（工藝氣體監(jiān)測(cè)儀） 檢漏儀 高速光譜橢偏儀 水晶振蕩式成膜控制器 真空閥 DC電源 DC脈沖電源 MF電源 RF電源 EB槍?EB電源 真空搬送機(jī)器人 小型蒸發(fā)設(shè)備 低溫設(shè)備(CRYO) 熱處理?熱物性評(píng)估裝置
日本Rigaku理學(xué)儀器株會(huì)社： x射線粉末衍射儀，熒光光譜儀，日本Rigaku理學(xué)儀器株會(huì)社： Rigaku理學(xué)x射線粉末衍射儀，Rigaku理學(xué)熒光光譜儀，日本Rigaku理學(xué)儀器 x射線粉末衍射儀，日本Rigaku理學(xué)儀器熒光光譜儀。X射線衍射儀（包括粉末X射線衍射儀（PXRD）、單晶X射線衍射儀（SXRD）等）、熱分析儀（包括Skimmer/PI-TG-MS、STA、DSC、TMA等）、X射線應(yīng)力分析儀、X射線小角散射儀（包括材料小角、生物小角）等...
日立HITACHI分析儀器XRF鍍層測(cè)厚儀X-Strata920，F(xiàn)T110A，F(xiàn)T200系列，F(xiàn)T160
HITACHI日立鍍層厚度和成分測(cè)量分析儀，材料分析解決方案
IMV（愛睦威）株式會(huì)社在日本自1957年成立以來，一直致力于動(dòng)力學(xué)中振動(dòng)技術(shù)的研究開發(fā)。圍繞各種振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)，振動(dòng)測(cè)試， 振動(dòng)監(jiān)視裝置的制造，銷售和技術(shù)服務(wù)，在展開業(yè)務(wù)。公司的獨(dú)立性產(chǎn)品，如6自由度振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)，高頻率振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)，多點(diǎn)多軸同時(shí)振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)，節(jié)能型振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)等，在世界同行業(yè)中處于地位。產(chǎn)品***應(yīng)用于的汽車，航空航天，工業(yè)，電子產(chǎn)品等主...
日本KOFLOC小島氣體流量計(jì)系列中國(guó)代理：半導(dǎo)體生產(chǎn)氣體日本KOFLOC小島質(zhì)量流量計(jì)，日本KOFLOC小島半導(dǎo)體生產(chǎn)氣體質(zhì)量流量計(jì)。氣體流量計(jì)，超聲波流量計(jì)，插入式流量計(jì)，蒸汽流量計(jì)，電磁流量計(jì)，明渠流量計(jì)，轉(zhuǎn)子流量計(jì)，靶式流量計(jì)，渦輪流量計(jì)，齒輪流量計(jì)，楔型流量計(jì)，腰輪羅茨流量計(jì)，測(cè)漏儀均速管流量計(jì)，容積式流量計(jì)，差壓式流量計(jì)，其它流量計(jì)流速儀